推拉力

MFM1200多功能推拉力测试机是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，具有测试动作迅速、准确、适用面广的特点。适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天等等。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。

详细介绍

MFM1200多功能推拉力测试机是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，具有测试动作迅速、准确、适用面广的特点。适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天等等。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。

MFM1200多功能推拉力测试机

技术优势：

1.DGFT智能数字技术：特有的智能数字技术(DGFT), 极大的优化了测试模块的适应能力,确保测试模块在不同主机上的数据可靠性和*性；

2.VPM垂直定位技术：传感器采用垂直位移和定位技术, 确保精准可靠的测试状态和精密快速的定位动作；

3.高性能传感器：自主研发制造的高频响、高精度动态传感器；

4.Auto-Range技术：所有测试传感器均采用自动量程设计,分辨率全量程范围*，客户在测试前无需在软件端做繁杂而且耗时的档位设定；

5.优异的设备操控性：具备*保护措施、左右摇杆控制器可自由摆放,操作手感舒适；

6.坚固机身设计：机身测试负荷能力高达500KG。

技术参数：

设备尺寸：520mm * 宽620mm（含摇杆） * 高700mm；

重量：约65kg；

电源供应：220VAC@4.0A,50-60HZ；

压缩空气供应：4.5-6Bar；

控制电脑及软件平台：联想 / 戴尔 / 或兼容PC，Windows XP-SP3；

显微镜倍数及品牌：标准配置60倍，Leica / Nikon / Olympus；

XYZ三轴分辨率及行程：分辨率均小于0.125um，行程分别为65mm，55mm，60mm；

Z 轴测试高度定位精度：小于正负1um；

机器可承受最大力：500KG。